检测目的
观察微观区域的形貌
检测范围
电子元器件、汽车电子、医疗、通讯、手机、电脑、电气等
试验简介
按照具体检测要求，通过光学显微镜、扫描电镜对样品的表面、断口及其它关注截面进行高倍观察。比如表面形貌、断口形貌、金相组织、微观层状结构等需要进行高倍观察的检测项目。
通常光学显微镜的观察倍数Zui大为1000倍，检测面必须平整；扫描电镜对平整度要求不高，断口形貌也能观察，需要样品具有导电性，一般的扫面电镜可清晰观测的Zui大倍数为5000~20000倍不等（具体看样品的导电性，以及气体残余情况）。场发射扫描电镜的可清晰观测的Zui大倍数在10万倍以上。
试验设备
光学显微镜
扫描电镜（SEM）
产品详情