iEDX-150T镀层测厚仪
ISP iEDX-150T镀层测厚仪；
采用非真空样品腔；
专业用于PCB电镀镀层分析、电路板镀层膜厚分析测试及镀层测厚；
采用先进的多种光谱拟合度镀层分析处理技术；
可分析镀层中的合金成分比列。
联系我们
善时仪器
扫描电镜
合金分
镀层测厚仪
RoHS检测仪
液体气体检测仪
iEDX-150T镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域
技术指标
多镀层分析，1～5层
测试精度：0.001 μm
元素分析范围从铝(Al)到铀(U)
测量时间：10~30秒
SDD探测器，能量分辨率为125±5eV
探测器Be窗0.5mil（12.7μm）
微焦X射线管50KV/1mA，钼，铑靶（高配微焦钼靶）
6个准直器及多个滤光片自动切换
XYZ三维移动平台，Zui大荷载为5公斤
高清CCD摄像头（200万像素），监控位置
多变量非线性去卷积曲线拟合
高性能FP/MLSQ分析
仪器尺寸：618×525×490mm
样品台尺寸：250×220mm
直接打印分析报告
报告可转换为PDF，EXCEL格式
